沖壓件外觀檢測設(shè)備檢測金屬外觀方案！
作者 : 安徽思普泰克發(fā)布時間 : 2022-10-17 瀏覽 : 306 次
注明：沖壓件外觀檢測設(shè)備檢測項目，均需在影像下清晰可見才能檢測。檢測效率：每分鐘檢測數(shù)量 不低于200件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
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一、檢測內(nèi)容及要求
檢測內(nèi)容：
注明：沖壓件外觀檢測設(shè)備檢測項目，均需在影像下清晰可見才能檢測。檢測效率：每分鐘檢測數(shù)量 不低于200件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
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| 序號 | 檢測位置 | 檢測方式 | 是否可檢 | 備注 |
| 1 | 大端面尾釘 | 底部正光檢測 | 可檢 |
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| 2 | 大端面未做倒角 | 底部正光檢測 | 可檢 |
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| 4 | 大端面披鋒、夾傷 | 底部正光檢測 | 可檢 |
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| 5 | 切削不良 | 頂部正光檢測 | 可檢 |
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| 6 | 外徑夾傷導(dǎo)致端面變形 | 側(cè)面正光檢測 | 可檢 | 處在兩相機視野夾角位置不可檢 |
| 7 | 外徑粗糙 | 側(cè)面正光檢測 | 可檢 |
注明：沖壓件外觀檢測設(shè)備檢測項目，均需在影像下清晰可見才能檢測。檢測效率：每分鐘檢測數(shù)量 不低于200件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
二、設(shè)備組成及主要機構(gòu)
設(shè)備型號：SP-T300云盤檢測設(shè)備 外形尺寸：900*800*1850mm
組成部件清單：
| 序號 | 部件名稱 | 規(guī)格型號 | 數(shù)量 | 備注 |
| 1 | 視覺檢測軟件 | SIPOTEK | 1套 | 數(shù)據(jù)可上傳 |
| 2 | 工業(yè)電腦 | SIPOTEK定制 | 1套 |
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| 3 | 顯示器 | PHILIPS 19”液晶顯示器 | 1臺 |
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| 4 | 工業(yè)相機 | SONY工業(yè)相機 | 5套 |
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| 5 | 相機調(diào)節(jié)模組 | SIPOTEK定制 | 5套 |
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| 6 | 工業(yè)鏡頭 | FA高清光學工業(yè)鏡頭 | 5套 |
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| 7 | 光源 | 定制光學自適應(yīng)光源 | 6套 |
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| 8 | 檢測平臺 | 專業(yè)光學玻璃載臺 | 1套 |
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| 9 | 伺服電機 | 松下·PANASONIC | 1套 |
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| 10 | 控制系統(tǒng) | SIPOTEK定制 | 1套 |
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| 11 | PLC運動協(xié)作 | 松下·PANASONIC | 1套 |
|
沖壓件外觀檢測設(shè)備外觀3D立體圖
三、樣件測試圖片:
底部正光檢測原圖：
底部正光檢測良品分析圖：OK
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征： 大端面夾傷 分析結(jié)果：可檢
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征： 大端面尾釘 分析結(jié)果：可檢
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征： 未做倒角 分析結(jié)果：可檢
三、樣件測試圖片:
底部正光檢測原圖：
底部正光檢測良品分析圖：OK
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征： 大端面夾傷 分析結(jié)果：可檢
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征： 大端面尾釘 分析結(jié)果：可檢
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征： 未做倒角 分析結(jié)果：可檢
頂部正光檢測良品分析圖：OK
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征： 切削不良 分析結(jié)果：可檢
側(cè)面正光檢測良品分析圖：OK
側(cè)面正光檢測良品分析圖：OK
側(cè)面正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征： 外徑夾傷 分析結(jié)果：可檢
側(cè)面正光檢測良品分析圖：OK
側(cè)面正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征： 外徑粗糙 分析結(jié)果：可檢
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